PHÁT HIệN
Hệthốngdịchvụkháchhàng
Tênngườidùng:
Mậtkhẩu:
Mãxác minh:  Mãxác minh

Phòng thí nghiệm phân tích lỗi độ tin cậy

Quá trình phân tích hư hỏng nói chung là quá trình mô phỏng sự tái diễn của hiện tượng hư hỏng, tìm ra nguyên nhân hư hỏng và khai quật cơ chế hư hỏng thông qua phân tích và xác minh theo phương thức và hiện tượng hư hỏng. Sự cố của thiết bị là sự mất hoàn toàn hoặc một phần chức năng của nó, sai lệch tham số hoặc sự cố trên xảy ra không liên tục.


1. Các phương pháp phân tích hư hỏng phổ biến

• Phân tích thành phần vật liệu                           • Phân tích đặc tính vật lý                             • Phân tích khả năng hòa tan

• Độ bền điện môi                                                • Phân tích khả năng chống cháy                • Phân tích khả năng chịu nhiệt

• Chống ăn mòn                                                   • Theo dõi kháng

 

2. Phương pháp phân tích hư hỏng chung của đèn LED

• Phối cảnh quang học làm mỏng nhựa               • Giải phẫu bán ăn mòn                              • Phân tích kim loại học

• Phân tích kiểm tra giai thừa                               • Phương pháp quan sát dòng điện biến đổi

 

3. Phương pháp kiểm tra phân tích hư hỏng của đèn LED

• Phân tích lỗi của hạt đèn LED                            • Phân tích lỗi lưu hóa

• Tìm kiếm điểm rò rỉ chip                                     • Quan sát đứt gãy dây vàng COB

• Phân tích đứt gãy của dây vàng LED                 • Đo điện trở nhiệt bằng đèn LED

• Nhận dạng chip                                                   • Các phụ kiện LED kiểm tra thành phần không chứa lưu huỳnh

• Kiểm tra đèn LED chống lưu huỳnh                    • LED kiểm tra độ kín khí bằng silicone

• Nhận dạng vật liệu vòi phun                                • Kiểm tra khả năng chống tĩnh điện của đèn LED


Trường hợp phân tích lỗi độ tin cậy

可靠性-15.jpg